ビッグデータ解析によるエレクトロニクス製品製造時の事前不良予測と予防
エレクトロニクス製品は、出荷テストで合格品のみを出荷しているにも関わらず、市場や顧客にて不良として返品される事がしばしばあります。 O+のソリューションにより製造段階で、このような出荷後に不良となる製品を事前に予測し、予防の対策がとることができます。
O+の解析ソリューションとMESとの位置づけ
エレクトロニクス製品の製造におけるビッグデータ解析ソリューションは時折MESと混同されることがございます。本スライドにて違いや、それぞれの位置づけを明確にします。