JFEテクノリサーチ株式会社のカタログ一覧
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膜厚分布測定装置FiDiCa®（フィディカ）
●膜厚分布を高速・高精度に測定･可視化 ・半導体やフィルム、液膜などの膜厚分布を高速・高精度にマッピングできる、2次元分光干渉膜厚計 ・50nm～100umまで、幅広い膜厚レンジの測定に対応 ・分光干渉法を用いた高い測定精度 ・独自アルゴリズムを...
【気流の可視化解析技術】赤外線カメラによる気流の可視化
赤外線カメラによる温度計測結果の解析により、気体の流れを可視化します
◆赤外線カメラで撮影した動画に対し、当社オリジナルの短時間ロックイン解析技術*を用いて気体の瞬時の温度変化を解析することにより、温度変動を伴う気流を可視化します。 ◆赤外線カメラはバッテリ駆動が可能であり、レーザ機器やトレーサ粒子等も不要て...