CCTECH JAPAN株式会社のカタログ一覧

次世代高速外観検査装置　SPμx1

独自の画像処理アルゴリズムで背景パターンを除去して欠陥のみを抽出

・高解像度光学系+独自の画像処理 ・RGBWの4色照明　赤、緑、青、白の4色から選択可能（混合も可能） 適正な光源で確実な検出 ・異次元の高速画像処理 ・新開発の画像処理エンジンを搭載 ・低価格で高速処理を実現 ◆詳細はカタログをダウンロー...

高性能ウェーハマクロ欠陥検査装置　PRESTIGE II

独自の画像処理アルゴリズムで背景パターンを除去して欠陥のみを抽出

・高解像度光学系+独自の画像処理 ・RGBの3色照明　赤、緑、青の3色が選択可能（混合も可能）適正な光源で確実な検出 ・膜厚ムラを同時解析 ・LEDやMEDIAの検査にも有効 ◆詳細はカタログをダウンロードしてご覧下さい。

Glass欠陥検査装置　P-STATION

液晶・ウェーハ・MEDIAなどGlass基板に対応

液晶ガラス向け ・最大550mm×650mm基板サイズ ・独自保持機構で薄基板にも対応 ・インライン（量産）対応モデル ウェーハ向け ・最大12インチ ・インライン（量産）対応モデル ・硝子対応特殊光学系 ◆詳細はカタログをダウンロー...